+7 (495) 380 19 85

Главная » Новости » 1 » Стандарт измерения для нанотехнологий создали ученые Новосибирска

Стандарт измерения для нанотехнологий создали ученые Новосибирска

06.05.2015

Специалисты новосибирского Института физики полупроводников СО РАН создали стандарт измерения высоты поверхности, который может применяться для настройки и калибровки высокоточной аппаратуры, в том числе применяемой в сфере нанотехнологий, сообщил журналистам старший научный сотрудник института Сергей Косолобов.

«Для области нанотехнологий существование стандартов калибровки приборов, которые измеряют высоту или профиль поверхности, это очень важная задача. Их на данный момент в мире нет, таких стандартов. 90-100 нанометров есть, а все, что меньше, - нету. Мы создали такой эталонный объект, его сейчас регистрируют в государственном реестре средств измерений», - сказал Косолобов.

Старший научный сотрудник новосибирского Института физики полупроводников СО РАН пояснил, что первоначально ученые занимались созданием идеально гладкой поверхности и учились контролировать перестройку атомов при внесении изменений в структуру какой-либо поверхности, например, образца кремния. Физикам удалось получить поверхности, которые не содержат на себе слоев атомов – «атомных ступеней».

«Зачем это нужно? Когда нам приносят биологи какой-то объект и говорят: «Мы хотим знать его форму», - мы должны положить его на какую-то подложку. Но если подложка сама имеет какую-то форму, мы будем мерить совокупность двух форм, и реальную трудно вычленить», - пояснил Сергей Косолобов.

Впоследствии, рассказал он, физики начали располагать на заданных местах поверхности от одной до нескольких сотен «атомных ступеней», что и привело к созданию нового стандарта измерений высоты. Этот стандарт уже используется производителями атомно-силовых и интерференционных микроскопов.

Возврат к списку